Tên thương hiệu: | ZMSH |
Số mẫu: | SI WAFER |
MOQ: | 10 chiếc |
giá bán: | by quantites |
Chi tiết bao bì: | thùng chứa wafer đơn |
Điều khoản thanh toán: | Công Đoàn Phương Tây, T/T |
Sapphi Oxit nhiệt độ dày lớn (SiO2) trên tấm silicon cho hệ thống truyền thông quang học
Nhìn chung, độ dày lớp oxit của tấm silicon chủ yếu tập trung dưới 3um, các quốc gia và khu vực có thể sản xuất ổn định lớp oxit dày chất lượng cao (trên 3um) vẫn do Hoa Kỳ, Nhật Bản, Hàn Quốc và Đài Loan thống trị. , Trung Quốc.Dự án này nhằm mục đích vượt qua hiệu quả tạo màng, giới hạn độ dày màng và chất lượng tạo màng của màng oxit (SiO) theo quy trình tăng trưởng lớp oxit hiện tại và tạo ra wafer silicon lớp oxit siêu dày tối đa 25um(+5%) với chất lượng cao và hiệu quả cao trong thời gian tương đối ngắn.Độ đồng đều trong mặt phẳng và liên mặt phẳng +0,5%, chiết suất 1550nm 1,4458+0,0001.Đóng góp vào việc nội địa hóa 5G và truyền thông quang học.
Các tấm silicon tạo thành các lớp silica thông qua các ống lò với sự có mặt của các tác nhân oxy hóa ở nhiệt độ cao, một quá trình được gọi là quá trình oxy hóa nhiệt.Phạm vi nhiệt độ được kiểm soát từ 900 đến 1.250oC;Tỷ lệ khí oxy hóa H2:O2 là từ 1,5:1 đến 3:1.Tùy theo kích thước của tấm wafer silicon, sẽ có mức độ mất dòng khác nhau nếu không có độ dày oxy hóa. Tấm silicon nền là silicon đơn tinh thể 6 "hoặc 8" với độ dày lớp oxit từ 0,1μm đến 25μm.
Mặt hàng |
Sự chỉ rõ |
Độ dày lớp | 20um士5% |
Tính đồng nhất (trong một wafer) | 土0,5% |
Tính đồng nhất (giữa các tấm wafer) | 土0,5% |
Chỉ số khúc xạ (@1550nm) | 1,4458+0,0001 |
hạt | ≤50Trung bình đo được <10 |