Tên thương hiệu: | ZMSH |
Số mẫu: | mâm giờ không phẳng bằng gốm bằng gốm bằng gốm |
MOQ: | 2 |
Chi tiết bao bì: | thùng tùy chỉnh |
Điều khoản thanh toán: | T/T |
Chấu hút chân không wafer gốm siêu phẳng được làm bằng lớp phủ silicon carbide (SiC) có độ tinh khiết cao, được thiết kế cho các quy trình xử lý wafer tiên tiến. Được tối ưu hóa để sử dụng trong thiết bị phát triển MOCVD và chất bán dẫn hợp chất, nó mang lại khả năng chịu nhiệt và chống ăn mòn tuyệt vời, đảm bảo độ ổn định vượt trội trong môi trường xử lý khắc nghiệt. Điều này góp phần cải thiện việc quản lý năng suất và độ tin cậy trong sản xuất wafer bán dẫn.
Cấu hình tiếp xúc bề mặt thấp của nó giúp giảm thiểu ô nhiễm hạt ở mặt sau, làm cho nó trở nên lý tưởng cho các ứng dụng wafer có độ nhạy cao, nơi độ sạch và độ chính xác là rất quan trọng.
Giải pháp này kết hợp hiệu suất cao với hiệu quả chi phí, hỗ trợ các môi trường sản xuất đòi hỏi khắt khe với hiệu suất đáng tin cậy và lâu dài.
Nguyên tắc hoạt độngCủaChấu hút chân không SiC
Trong các quy trình nhiệt độ cao, tấm mang SiC đóng vai trò là giá đỡ để mang wafer hoặc vật liệu màng mỏng. Độ dẫn nhiệt cao của nó đảm bảo phân bố nhiệt đồng đều, cải thiện độ ổn định và tính đồng nhất của quy trình. Ngoài ra, do độ cứng và tính trơ hóa học, tấm duy trì tính toàn vẹn cấu trúc ngay cả trong môi trường ăn mòn, đảm bảo độ tinh khiết của sản phẩm và an toàn cho thiết bị.
Thông số của Chấu hút chân không Wafer
Thông số kỹ thuật chính của Lớp phủ CVD-SIC | ||
Thuộc tính SiC-CVD | ||
Cấu trúc tinh thể | Pha FCC β | |
Mật độ | g/cm ³ | 3.21 |
Độ cứng | Độ cứng Vickers | 2500 |
Kích thước hạt | μm | 2~10 |
Độ tinh khiết hóa học | % | 99.99995 |
Nhiệt dung riêng | J·kg-1 ·K-1 | 640 |
Nhiệt độ thăng hoa | ℃ | 2700 |
Độ bền uốn | MPa (RT 4 điểm) | 415 |
Mô đun Young | Gpa (uốn 4 điểm, 1300℃) | 430 |
Độ giãn nở nhiệt (C.T.E) | 10-6K-1 | 4.5 |
Độ dẫn nhiệt | (W/mK) | 300 |
Tính năng của Chấu hút chân không Wafer
● Khả năng siêu phẳng
● Đánh bóng gương
● Trọng lượng cực nhẹ
● Độ cứng cao
● Độ giãn nở nhiệt thấp
● Đường kính Φ 300 mm trở lên
● Khả năng chống mài mòn cực cao
Trong ngành công nghiệp bán dẫn và quang điện tử, các wafer siêu mỏng thường được đặt trên các chấu hút chân không silicon carbide (SiC) xốp. Bằng cách kết nối với máy tạo chân không, áp suất âm được áp dụng để giữ chặt wafer tại chỗ mà không cần kẹp cơ học. Điều này cho phép xử lý chính xác và ổn định trong các giai đoạn sau:
Gắn sáp
Làm mỏng mặt sau (Mài hoặc Mài)
Khử sáp
Làm sạch
Chia / Cưa
Việc sử dụng chấu hút chân không SiC xốp có độ tinh khiết cao đảm bảo độ ổn định nhiệt và hóa học tuyệt vời trong suốt các quy trình này, đồng thời giảm thiểu ô nhiễm và duy trì độ phẳng của wafer. Độ bền cơ học vượt trội và độ dẫn nhiệt của nó cũng làm giảm nguy cơ vỡ wafer trong quá trình xử lý, đặc biệt đối với các chất nền mỏng manh hoặc siêu mỏng như GaAs, InP hoặc SiC.
Q1: Mục đích chính của chấu hút chân không SiC xốp là gì?
A: Nó được sử dụng để giữ chặt các wafer mỏng hoặc dễ vỡ trong các bước xử lý quan trọng như gắn sáp, làm mỏng, làm sạch và chia. Hút chân không thông qua vật liệu SiC xốp cung cấp khả năng giữ đồng đều và ổn định mà không làm hỏng bề mặt wafer.
Q2: Vật liệu nào có thể được xử lý bằng chấu hút chân không SiC?
A: Nó hỗ trợ nhiều loại vật liệu bán dẫn, bao gồm:
Silicon (Si)
Gallium Arsenide (GaAs)
Indium Phosphide (InP)
Silicon Carbide (SiC)
Sapphire
Đây thường là wafer mỏng hoặc giòn cần xử lý ổn định trong quá trình xử lý back-end.
Q3: Ưu điểm của việc sử dụng SiC xốp so với chấu kim loại hoặc gốm là gì?
A: SiC xốp có một số ưu điểm:
Ekhả năng dẫn nhiệt tuyệt vời – ngăn ngừa sự tích tụ nhiệt trong quá trình xử lý
Độ bền cơ học cao – giảm thiểu nguy cơ biến dạng
Tính trơ hóa học – tương thích với hóa chất làm sạch mạnh
Ít sinh hạt – thích hợp cho môi trường phòng sạch
Phân phối chân không ổn định – hút đồng đều trên bề mặt wafer
Sản phẩm liên quan
Wafer SiC 12 inch 300mm Wafer Silicon Carbide Cấp giả dẫn điện Cấp nghiên cứu loại N